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          產(chǎn)品中心PRODUCTS CENTER
          
        
        在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展
    
          

          



          
	
          
        產(chǎn)品中心
    
          
    
          
        
          首頁-產(chǎn)品中心-粗糙度測量儀-Compact WIL白光干涉微光形貌粗糙度儀

          
    
          

          




          
	
          
    	
        
        
        
    	        
    
          
    
          
    	
          
            	
          
                	
					
                	
          Compact WIL瑞士丹青進(jìn)口白光干涉微觀形貌粗糙度儀
          

          
    
    
          瑞士丹青進(jìn)口白光干涉微觀形貌粗糙度儀
瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學(xué)測量技術(shù)，其分辨率高達(dá)納米級。測量點平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過程中的典型應(yīng)用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測量（如微透鏡等）。
          
    
          
    	
          更新日期：2024-04-24
          型號：Compact WIL
          訪問次數(shù)：591
          
    
          

          

          
                    	
					
                
          
            
          
        
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