瑞士丹青進口白光干涉微觀形貌粗糙度儀

瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學測量技術，其分辨率高達納米級。測量點平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時間內采集。研究和質量管理過程中的典型應用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結構、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測量（如微透鏡等）。

WLI白光干涉?zhèn)鞲衅魈攸c：

直接3D測量 非常快速 高精度，分辨率0.1nm 2.5x~100x干涉鏡頭 50x以上干涉鏡頭用于高反射表面 集成拼接功能 測量范圍最大400µm 適用于所有材料  高速壓電陶瓷Z軸 2百萬或5百萬像素攝像頭(根據測量需求配置) Trimos提供基于WLI技術的優(yōu)良解決方案并通過  Trimos Nanoware測量軟件對整個測量過程進行控制和分析。 Trimos在本領域進行了廣泛的研究并積累了豐富的經驗，因而能提供高效、穩(wěn)定、精確的分析算法。

瑞士丹青進口白光干涉微觀形貌粗糙度儀

瑞士丹青TR-SCAN微觀形貌光學粗糙度測量儀，廣泛應用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測量技術相比，測量速度快，對振動不敏感，實現三維形貌納米級測量。模塊化的設計理念，可配置色譜共焦傳感器，白光干涉?zhèn)鞲衅?。傳感器直接更換，方便快捷，滿足不同的應用領域。即可用于計量單位和材料科學研發(fā)實驗室，也廣泛應用在工業(yè)制造領域：汽車、航天、航空、表面涂層、醫(yī)療產品、微型電機系統(tǒng)、半導體等行業(yè)。